奧林巴斯探傷儀點(diǎn)焊探頭型號(hào)及參數(shù)

點(diǎn)焊探頭是一種單晶延遲塊探頭，與專門用于檢測(cè)點(diǎn)焊完整性的硬尖延遲塊或密封式水柱相兼容。

優(yōu)勢(shì)

• 多種晶片尺寸，用于檢測(cè)不同尺寸的點(diǎn)焊熔核。

• 與延遲塊或水柱相兼容。

• 刻有英寸和毫米兩種單位。

應(yīng)用

• 汽車、電器和其它關(guān)鍵性工業(yè)產(chǎn)品的點(diǎn)焊。

雙晶探頭：

雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測(cè)嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而且還可用于高溫環(huán)境。

雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。要了解有關(guān)用于MG2和37系列測(cè)厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請(qǐng)咨詢我們。

優(yōu)勢(shì)

• 改進(jìn)了近表面的分辨率。

• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。

• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。

• 減少了粗晶?；蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍簟?/span>

• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。

• 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。

應(yīng)用

• 剩余壁厚測(cè)量。

• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。

• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。

• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。

• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為最多10秒鐘接觸，然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍頂部雙晶）。

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波

發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測(cè)，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無法到達(dá)希望檢測(cè)的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào)。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測(cè)工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。

優(yōu)勢(shì)

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí)，還表現(xiàn)出防磨特性。

• 高溫楔塊可對(duì)熱材料進(jìn)行在役檢測(cè)。

• 用戶可根據(jù)需要定制楔塊，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度。

• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)計(jì)。

應(yīng)用

• 缺陷探測(cè)與定量。

• 要了解衍射時(shí)差探頭，請(qǐng)參閱第35頁(yè)。

• 檢測(cè)管道、管件、鍛件、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫。

袖珍旋入式探頭

• 旋入式設(shè)計(jì)，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。

標(biāo)準(zhǔn)的角度聲束探頭和楔塊提供較大的掃查步進(jìn)距離，從而縮短了檢測(cè)較大的表面所用的掃查時(shí)間。

袖珍角度聲束探頭和楔塊主要用于檢測(cè)焊縫的完整性。由于這種探頭和楔塊組合件的設(shè)計(jì)特點(diǎn)，這種組合件很容易進(jìn)行前后掃查，并得到較短的接近距離。

選擇延遲塊或者水柱。探頭、延遲塊、延遲塊固定環(huán)、水柱和薄膜需要分別訂購(gòu)。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測(cè)量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測(cè)量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。

優(yōu)勢(shì)

• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供近場(chǎng)分辨率。

• 較高的探頭頻率提高了分辨率。

• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應(yīng)用

• 精確測(cè)厚。

• 垂直聲束缺陷探測(cè)。

• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)。可更換延遲塊探頭

• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán)。

• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。

奧林巴斯探傷儀點(diǎn)焊探頭型號(hào)及參數(shù)

探頭   頻率    直徑  直徑   延遲塊   延遲塊   水柱

工件編號(hào)（兆赫）（毫米）（英寸）選擇適當(dāng)?shù)闹睆?固定環(huán) 訂購(gòu)薄膜（見下表）

V2325 15 2.5 0.098 SWDL-25 (2.5 mm) SWDL-27 (2.7 mm) SWRR-1 DLCW-1003

V2330 15 3 0.118 SWDL-30 (3.0 mm) SWDL-32 (3.2 mm) SWRR-1 DLCW-1003

V2335 15 3.5 0.138 SWDL-35 (3.5 mm) SWDL-37 (3.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2340 15 4 0.157 SWDL-40 (4.0 mm) SWDL-42 (4.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2345 15 4.5 0.177 SWDL-45 (4.5 mm) SWDL-47 (4.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2350 15 5 0.197 SWDL-50 (5.0 mm) SWDL-52 (5.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2355 15 5.5 0.217 SWDL-55 (5.5 mm) SWDL-57 (5.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2360 15 6 0.236 SWDL-60 (6.0 mm) SWDL-62 (6.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2365 15 6.5 0.256 SWDL-65 (6.5 mm) SWDL-67 (6.7 mm) SWRR-3 DLCW-3003

V2380 15 8 0.315 SWDL-80 (8.0 mm) SWDL-82 (8.2 mm) SWRR-3 DLCW-3003

V2425 20 2.5 0.098 SWDL-25 (2.5 mm) SWDL-27 (2.7 mm) SWRR-1 DLCW-1003

V2430 20 3 0.118 SWDL-30 (3.0 mm) SWDL-32 (3.2 mm) SWRR-1 DLCW-1003

V2435 20 3.5 0.138 SWDL-35 (3.5 mm) SWDL-37 (3.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2440 20 4 0.157 SWDL-40 (4.0 mm) SWDL-42 (4.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2445 20 4.5 0.177 SWDL-45 (4.5 mm) SWDL-47 (4.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2450 20 5 0.197 SWDL-50 (5.0 mm) SWDL-52 (5.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2455 20 5.5 0.217 SWDL-55 (5.5 mm) SWDL-57 (5.7 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2460 20 6 0.236 SWDL-60 (6.0 mm) SWDL-62 (6.2 mm) SWRR-2 DLCW-2003

V2465 20 6.5 0.256 SWDL-65 (6.5 mm) SWDL-67 (6.7 mm) SWRR-3 DLCW-3003

上面的部件為探頭、水柱、薄膜。

下面的部件為探頭、延遲塊、延遲塊固定環(huán)。